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微納介紹超細粉體的各種粒度分析方法對比

更新時間:2015-09-14 點擊次數(shù):1907

粒度是粉體物料非常重要的特性之一,在粉碎工程的研究還有粉體產(chǎn)品的生產(chǎn)當(dāng)中,常常會用到諸如物料的平均粒度、粒度組成還有粒度分布等數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)就是通過各種的粒度測定方法得到的。

 

               

(1) 篩分分析方法

zui簡單的也是應(yīng)用zui早的粒度分析方法是篩分法。但是,由于現(xiàn)如今的標準篩(如泰勒標準篩)zui細的一般只到400目(相當(dāng)于38μm),因此,對于小于10μm的超細粉體來說,不可能會用標準篩進行粒度分析和檢測。雖然新發(fā)展的電沉積篩網(wǎng)也可以篩分小至5μm的粉體物料,但這種篩分技術(shù)由于篩分時間長和經(jīng)常發(fā)生堵塞,很少在分析中使用。

篩分分析就是利用篩孔大小不同的一套篩子進行粒度分級。對于粒度小于100mm但是大于0.038mm的松散物料,一般會用篩分法來測定其粒度組成和粒度分布。

篩分分析所采用的套篩一般有兩種:一種為非標準篩,實驗室是可以自己制造的,可以用于篩分粗粒物料。篩孔的大小一般為150、120、100、80、70、50、25、15、12、6、3、2、1mm等,根據(jù)需要確定。而另一種為標準套篩,可以用于篩分細粒物料,標準套篩就是由一套篩孔大小有一定比例的、篩孔寬度和篩絲直徑都是按標準制造的篩子組。上層篩子的篩孔大,下層篩子的篩孔小,另外還有一個上蓋(防止試樣在篩分的過程中損失)和篩底(用來直接接取zui低層篩子的篩下產(chǎn)物)。

將標準篩按照篩孔由大到小,從上到下地排列起來,各個篩子所處的層位叫做篩序;在疊好的篩序中,每兩個相鄰的篩孔尺寸之比叫做篩比。有些標準篩會有一個作為基準的篩子叫基篩,比如泰勒標準篩以200目篩子作為基篩。表1所列的幾種常見的標準篩。

粒度范圍是6mm至0.038mm物料的篩分分析,常用的實驗室標準套篩進行,可以用干法,也可以用濕法。如果對篩析的度要求不是特別嚴格,通常直接進行干法篩析。但如果試樣含水、含泥較多,物料互相粘結(jié)時,應(yīng)采用干濕聯(lián)合篩析法,篩析得到的結(jié)果才比較。

(2) 其它粒度分析方法

當(dāng)今用于超細粉體粒度檢測的主要方法的沉降法(包括了重力沉降和離心沉降)、激光粒度分析儀、顯微鏡、庫爾特計數(shù)器還有用于測定比表面積的透過法和BET法。表2所列為這些方法的基本原理、測定范圍以及其主要特點。

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